介质损耗测试仪也称为抗干扰介质损耗测试仪,采用变频zhi电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,自动化,智能化,测量数据在强干扰条件下是稳定的,但测试数据在使用中显然是不合理的通常如下。
在现场测试时,用钩杆对产品进行检测时,吊钩须与试验产品良好接触,否则接触件的排放会引起严重的数据波动,特别是在过厚的氧化层或空气管摆动的排水管中导致接触不良。
接地不良也会引起仪表保护数据的严重波动,接地点的涂层应报废,零电阻接地。
用端盖法测量电磁式PT时,由水分引起的T形网络干扰引起的负介电损耗可以用常规法或端压法测量,直接测量CVT的低耦合电容会导致负的介电损耗,因此应采用自激法。
由于长期使用,容易造成试验线隐性短路,芯线屏蔽层短路或与插头接触不良,用户应始终维护测试线。当测试标准电容器测试产品时,应使用全屏蔽插头来消除额外杂散电容的影响,否则,介质损耗测试仪的精度就无法反映出来。自励方法是测量VT中的C,非高压线路应暂停,否则,附加的杂散电容和介质损耗会导致地面测量误差。
使用万用表测量测试电路是否开路,或芯线和屏蔽是否短路,输入功率过高或过低,接地良好,使用正极或负极导线测量具有已知电容和介质损耗的标准电容器或电容器样品,如果结果正确,则可判断仪器故障。